RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀(yi) 器按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,於(yu) 測量矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀(yi) 器。
儀(yi) 器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量範圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試台使用。
本儀(yi) 器廣泛應用於(yu) 太陽能單晶(多晶)生產(chan) 廠家為(wei) 矽材料的分選測試,半導體(ti) 材料廠、半導體(ti) 器件廠、科研單位、高等院校對半導體(ti) 材料的電阻性能測試。
便攜式四探針測試儀(yi) 按測量範圍可選配RTS-2型或RTS-2A型,區別:測量範圍不一樣。
技術參數:
RTS-2測量範圍 | 電阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 方塊電阻:0.1~19999Ω/□; |
RTS-2A測量範圍 | 電阻率:0.001~199.99Ω.cm; 方塊電阻:0.01~1999.9Ω/□; |
RTS-2恒流源 | 電流量程分為100μA、1mA兩檔,各檔電流連續可調 |
RTS-2A恒流源 | 電流量程分為1mA、10mA兩檔,各檔電流連續可調 |
數字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 輸入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1% ; 顯示:四位半紅色發光管數字顯示;極性、超量程自動顯示; |
四探針探頭基本指標 | 間距:1±0.01mm; 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 機械遊移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力); |
四探針探頭應用參數 | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 | 1Ω、10Ω、100Ω小於等於0.3%±1字 |
整機測量zui大相對誤差 | (用矽標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
整機測量標準不確定度 | ≤5% |
外型尺寸 | 125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深) |
標準使用環境 | 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%; 無高頻幹擾; 無強光直射; |
配置 | 四探針測試儀(yi) 主機、FT-202型四探針探頭 | 4500/套 | ||||||
配置 | 四探針測試儀(yi) 主機、FT-202型四探針探頭、S-2B型測試台 | 5800/套 |
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