CLJ-E塵埃粒子計數器

CLJ-E塵埃粒子計數器
該係列儀(yi) 器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的 JJF1190-2008檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控製處理技術及上的SMT芯片貼片封裝技術和半導體(ti) 激光傳(chuan) 感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。

具有功能多、測量精度高、速度快、便於(yu) 攜帶和操作簡單等特點。儀(yi) 器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，並能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對於(yu) 研究、檢測和評價(jia) 各種潔淨環境都十分方便。該係列儀(yi) 器性能設計、質量穩定可靠  該係列產(chan) 品已被廣泛應用於(yu) 潔淨室檢測；

過濾器現場檢測、撿漏；可監測超淨工作台、生物安全櫃，HVAC係統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產(chan) 環境，醫院潔淨手術室，汽車噴塗環境微電子、製藥、生化製品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產(chan) 和科研部門，是製藥企業(ye) 及其監督管理部門貫徹GMP規範及電子生產(chan) 企業(ye) 的*儀(yi) 器。
 
CLJ-E塵埃粒子計數器主要技術參數及性能：

 1.光源: 全半導體(ti) 激光光源

2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)

3.檢測範圍: 100級～100萬(wan) 級

4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬(wan) 顆/2.83L

5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔

6.顯示或打印可將2.83升/分內(nei) 所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。

7.采樣周期: 1～10 (min)

8.自淨時間: ≤15 (min)

9.校準：可追溯美國國家標準技術協會(hui) （NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準

10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH

11.zui大功耗: 25W

12.測量溫度和濕度的範圍與(yu) 精度：（選購）（1） 溫度：0～50℃±1℃ （2） 濕度：0～100%RH±5%

13.采樣點數 2～7點設定

14.每點采樣次數 2～9次設定

15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準

16.工作時間：8 小時

17.電源： AC220V±10% 50±2Hz

18.重量:3.6kg

19.外形尺寸: 260×130×340

20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。

21.備注: 內(nei) 置打印機、自動判斷淨化等級、等動力采樣頭、采樣架 (溫濕度探頭為(wei) 選購件)

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