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  • ZF-401型紫外檢測儀
    ZF-401型紫外檢測儀

    ZF-401紫外線檢測儀(yi) 是具有多種用途的,新型的實驗室*儀(yi) 器及照相設備,它的Z大特點是采用透射紫外光對DNA、RNA電脈經EB染色進行攝影,與(yu) 用照射紫外光源相比,不僅(jin) 大大縮短了照相時間,而且大大提高了電脈帶的清晰度。

    時間:2025-05-16型號:
  • 日本FUNATECH公司FY-100RC表麵檢查燈
    日本FUNATECH公司FY-100RC表麵檢查燈

    應用LED濾光片, 偏光板。晶圓,半導體(ti) 。玻璃或是金屬表麵。上列物品的刮痕及灰塵檢查。 特殊波長,主波長為(wei) 546、578nm知黃綠光且不傷(shang) 人眼。藉由人眼對黃綠光的高感度來檢查10um以下的刮痕或灰塵。主機和光線部分為(wei) 分離是可任意調整照射角度。采用電子點燈方式,強度可任意調整。

    時間:2025-05-16型號:
  • PowerMax PM-1600長波(UVA)LED大麵積紫外燈
    PowerMax PM-1600長波(UVA)LED大麵積紫外燈

    提供四種型號滿足不同的需求:高強度型號:帶黑光濾色片,及不帶黑光濾色片兩(liang) 種型號標準強度型號:帶黑光濾色片及不帶黑光濾色片兩(liang) 種型號適合於(yu) 無損檢測、熒光滲透及熒光磁粉檢測、篩選熒光粒子、清洗台檢測及其他許多要求大麵積均勻長波照射的應用。

    時間:2025-05-16型號:
  • CrackCheck-365係列懸掛式大麵積探傷燈
    CrackCheck-365係列懸掛式大麵積探傷燈

    CrackCheck-365的名稱又被叫作:熒光探傷(shang) 燈,紫外線探傷(shang) 燈,懸掛式探傷(shang) 燈,懸掛式黑光燈,探傷(shang) 黑光燈等。 CrackCheck-365係列LED冷光源黑光燈專(zhuan) 門為(wei) 熒光檢測而設計的一款新穎輕巧式大麵積懸燈。該燈的重量僅(jin) 為(wei) 傳(chuan) 統熒光燈的三分之一,壽命卻是傳(chuan) 統熒光燈的25-30倍。由於(yu) 采用冷光源技術,燈體(ti) 基本不發熱,安全、可靠、防水防濺。

    時間:2025-05-16型號:
  • LUV-400紫外線燈
    LUV-400紫外線燈

    LUV-400紫外線燈為(wei) 輸出中心波長為(wei) 365nm的大麵積輻照長波紫外線燈,又叫黑光燈、探傷(shang) 燈,LUV-400的38cm處照射麵積為(wei) 61x25cm,中心強度高達10000uw/cm2,它是滲透檢測、熒光探傷(shang) 、晶圓表麵微粒檢測的*設備!

    時間:2025-05-15型號:
  • 美國luyor公司LUYOR-1129B帶有3倍放大鏡的紫外線燈
    美國luyor公司LUYOR-1129B帶有3倍放大鏡的紫外線燈

    當你在熒光分析需要放大觀察時,LUYOR-1129B帶有放大鏡的紫外線燈是你的理想選擇。通過每盞燈的內(nei) 置放大鏡檢測微量的熒光物質。無論您需要長波紫外線,短波紫外線,擁有一個(ge) LUYOR-1129B紫外線燈,可以滿足您的特定需求。

    時間:2025-05-15型號:
  • 美國luyor公司LUYOR-1129A帶有3倍放大鏡的紫外線燈
    美國luyor公司LUYOR-1129A帶有3倍放大鏡的紫外線燈

    當你在熒光分析需要放大觀察時,LUYOR-1129A帶有放大鏡的紫外線燈是你的理想選擇。通過每盞燈的內(nei) 置放大鏡檢測微量的熒光物質。無論您需要長波紫外線,短波紫外線,擁有一個(ge) LUYOR-1129A紫外線燈,可以滿足您的特定需求。

    時間:2025-05-15型號:
  • LP-40PY 表麵檢查燈
    LP-40PY 表麵檢查燈

    是美國路陽儀(yi) 器公司針對半導體(ti) 行業(ye) 的推出的高強度黃綠光表麵檢查燈。精密物的表麵汙漬、刮傷(shang) 及異物是產(chan) 生不良品的Z大原因。專(zhuan) 為(wei) 此設計的LP-40PY 表麵檢查燈采用人眼Z敏感的光線來做Z簡單與(yu) 明確的判別,可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子,大大降低產(chan) 品不良率。

    時間:2025-05-15型號:
  • OPX-450藍光檢查燈
    OPX-450藍光檢查燈

    通用熒光檢測用高強度OPX-450藍光燈配有一個(ge) 高強度LED藍光燈泡、藍色陽極化燈頭及技術的防碎薄膜二向色濾色片,是熒光檢測及無損檢測(注:不適用MIL及ASTM熒光滲透探傷(shang) 及磁粉探傷(shang) 規範)應用的理想選擇。

    時間:2025-05-15型號:
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