SDY-5型雙電測四探針測試儀(yi) 采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩(liang) 次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響，從(cong) 而提高了測量結果的準確度

RTS-5型雙電測四探針測試儀(yi) 采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將範德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控製下進行兩(liang) 次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響。

RTS-9型雙電測四探針測試儀(yi) 采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將範德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控製下進行兩(liang) 次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響。

RTS-3型手持式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀(yi) 器按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，於(yu) 測量矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀(yi) 器。

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀(yi) 器按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，於(yu) 測量矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀(yi) 器。

SDY-4型四探針測試儀(yi) 是根據單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國A.S.T.M標準設計的半導體(ti) 材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀(yi) 器.

可連接電腦使用也可以不連接電腦使用，連接電腦使用帶自動測量功能，自動選擇適合樣品測試電流量程； 高速並口通訊接口，連接電腦使用時采集數據到電腦的時間隻需要1.5秒；

恒流源電流量程分為(wei) 1µA、10µA、100µA、1mA、10mA、100mA六檔；可連接電腦使用也可以不連接電腦使用，連接電腦使用帶自動測量功能，自動選擇適合樣品測試電流量程；高速並口通訊接口，連接電腦使用時采集數據到電腦的時間隻需要1.5秒（在0.1mA、1mA、10mA、100mA量程檔時）；

TH2512/TH2512A/TH2512B直流低電阻測試儀(yi) 是智能化、寬範圍、精密的直流電阻測試儀(yi) 器，適用於(yu) 變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開關(guan) 、接插件接觸電阻、導線電阻、元件焊點接觸電阻、印製板線條及焊孔電阻、金屬探傷(shang) 等。應用於(yu) 生產(chan) 線，可使用HANDLER接口及GPIB接口（選件）輸出良品/不良品信號，以提高生產(chan) 線自動化測試能力。